Description

Industrial CT for Semiconductor est un système CT à rayons X-de haute précision-pour l'inspection non-destructive et l'analyse interne des composants semi-conducteurs et des boîtiers électroniques avancés. Il fournit une imagerie 3D détaillée pour une détection précise des défauts, une vérification structurelle et une analyse des défaillances sans endommager les appareils sensibles.

Doté d'une imagerie haute-résolution et de performances stables, il inspecte les puces emballées, les assemblages de circuits intégrés avancés, les interconnexions multi-couches et d'autres structures semi-conductrices complexes, aidant ainsi les fabricants et les laboratoires à améliorer le rendement, la fiabilité et le contrôle des processus en R&D et en production.

Secteurs d'application

Laboratoires

Moulage par injection

Électronique

matériaux avancés

Images d’inspection

Paramètres système

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Emballage d'exportation

FAQ

Q : Votre système CT est-il sûr à utiliser ?

R : Oui. Tous nos systèmes CT sont équipés de systèmes de protection contre les rayonnements et de systèmes de verrouillage de sécurité conformes aux normes internationales de radioprotection, garantissant un fonctionnement sûr pour les utilisateurs.

Q : Combien de temps dure un scanner ?

R : La durée de numérisation dépend de la taille de l'échantillon, de la résolution et des paramètres de numérisation. Cela peut aller de quelques minutes à plusieurs dizaines de minutes. Des modes d'analyse rapides sont disponibles pour les environnements de production.

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